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■ 產(chǎn)品說明
穩(wěn)態(tài)熱反射測(cè)試法將基于雷射熱反射的技術(shù)（TDTR、FDTR）與穩(wěn)態(tài)熱傳導(dǎo)技術(shù)結(jié)合再一起，進(jìn)行快速、小尺度的穩(wěn)態(tài)量測(cè)。
寬廣的熱傳導(dǎo)系數(shù)測(cè)試范圍從0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能測(cè)試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統(tǒng)提供便利的使用，可選配的FDTR測(cè)量模塊量測(cè)徑向、橫向的熱傳導(dǎo)，以及材料邊界熱阻抗。搭配自動(dòng)平臺(tái)可以做到100mm的熱傳導(dǎo)分布圖。
穩(wěn)態(tài)熱反射測(cè)試法將基于雷射熱反射的技術(shù)（TDTR、FDTR）與穩(wěn)態(tài)熱傳導(dǎo)技術(shù)結(jié)合再一起，進(jìn)行快速、小尺度的穩(wěn)態(tài)量測(cè)。
寬廣的熱傳導(dǎo)系數(shù)測(cè)試范圍從0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能測(cè)試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統(tǒng)提供便利的使用，可選配的FDTR測(cè)量模塊量測(cè)徑向、橫向的熱傳導(dǎo)，以及材料邊界熱阻抗。搭配自動(dòng)平臺(tái)可以做到100mm的熱傳導(dǎo)分布圖。
SSTR-F是由弗吉尼亞大學(xué)ExSiTE 實(shí)驗(yàn)室Professor Patrick Hopkins 開發(fā)。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
| 固體、液體 | |
| 熱傳導(dǎo)范圍 | 0.05 to 2500W/mk |
|---|---|
| 熱點(diǎn)尺寸 | >100um |
| 溫度范圍 | 80K to 600K |
| **度 | 5% |
| 再現(xiàn)性 | 2% |
| FDTR | |
| 熱傳導(dǎo)范圍 | 0.05 to 2500W/mk |
| 量測(cè)方向 | 厚度方向、平面方向 |
| 薄膜厚度 | >5nm |
