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基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。 X-Strata 920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。四種樣品臺(tái)配置，分別是標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)、井深式、加寬式、程控式，可依照需求分析任何形狀的部件樣品。- 開(kāi)槽式樣品倉(cāng)設(shè)計(jì)，可以測(cè)量大型平板樣品，如尺寸大于儀器 寬度的印制線路板或小型的連接器，接插件樣品。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測(cè)點(diǎn)
- 樣品尺寸：270 x 500 x 150mm
- 準(zhǔn)直器：0.01mm x 0.25mm(0.5 x10 mil)
- 可根據(jù)需求選擇檢測(cè)器-正比計(jì)數(shù)器(Ti鈦~-U鈾)或高分辨率 (Al鋁 -U鈾)SDD
- 可以分析金屬膜厚及成分, 從原子序號(hào)22~至92的典型元素的電鍍層、化學(xué)鍍層
- 多層多元素校正符合IPC 4556, IPC 4552A
- Z 軸自動(dòng)控制, Z 軸自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)
- 鈷二次濾光片，用于準(zhǔn)確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的**測(cè)量
- 準(zhǔn)直器數(shù)量：6個(gè)
- 金屬薄膜厚度0.03微米(30nm)到 30 um微米，根據(jù)不同鍍層元素和鍍層結(jié)構(gòu)不同而不同
- Hitachi SmartLink FP 基本參數(shù)法
項(xiàng)目 描述 測(cè)量方向
(X射線照射方向)從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對(duì)焦 外形尺寸 寬 x 深 x 高 [mm]： 約 407 x 770 x 400 mm 樣品臺(tái)設(shè)計(jì) 開(kāi)槽式樣品倉(cāng)，可以測(cè)量大型平板樣品，如尺寸大於儀器 寬度的印製線路板或小型的連接器，接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測(cè)點(diǎn)。 Z 軸自動(dòng)控制（Z 向行程：43mm）
樣品倉(cāng)內(nèi)部尺寸：236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高)X射線源 W 靶射線管 高壓發(fā)生器 50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發(fā)生器，高壓多檔可調(diào) 二次濾光片 鈷二次濾光片，用於準(zhǔn)確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測(cè)量。 X射線接收器檢(探測(cè)器) 正比計(jì)數(shù)器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD 元素範(fàn)圍 鈦-鈾，或鋁-鈾（SDD） 視頻系統(tǒng) 彩色 CCD，30 倍光學(xué)放大， 200%、300%和 400%數(shù)位放大。樣品分析區(qū)域
在使用者介面顯示，清晰、易用。Z 軸自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng) 鐳射用於 Z 軸自動(dòng)精確定位X 射線光管/檢測(cè)器與被測(cè)樣品到*佳測(cè)試距離。
「一鍵操作」將Z 軸測(cè)試頭移動(dòng)到*佳位置，同時(shí)將樣品圖像定焦（顯示在螢?zāi)簧希?br style="text-size-adjust:none;box-sizing:border-box;"> 自動(dòng)而簡(jiǎn)單的操作提高儀器測(cè)試的再現(xiàn)性，並將人為測(cè)量誤差降到*低。
注：*佳測(cè)試距離為 12.7mm，由 X 射線測(cè)試頭自動(dòng)調(diào)節(jié)高度（Z 軸）。可測(cè)量的鍍層
元素範(fàn)圍元素週期表中 22 號(hào)鈦元素到 92 號(hào)鈾元素 可測(cè)量的鍍層層數(shù) *多可同時(shí)測(cè)量 4 層（不含基材） 可測(cè)鍍層厚度範(fàn)圍 通常約 0.03 微米到 30 微米，根據(jù)不同鍍層元素和鍍層結(jié)構(gòu)不同而不同。
